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        电子芯片高低温快速温变试验箱
        电子芯片高低温快速温变试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能

        一、电子芯片高低温快速温变试验箱概述:

              试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域*的测试设备,用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、交变或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。

        二、电子芯片高低温快速温变试验箱参数:

        1. 标称内容积

        225L

        1. 内型尺寸

        500*750*600 mm  (W*H*D)

        1. 外型尺寸

        依照实际尺寸制造(后期会给出具体尺寸)

        1. 重量

        520

        1. 散热方式

        水冷式(水塔用户提供)

        性能

        1. 测试环境条件
        2. 测试方法

        执行双85试验(即85度温度,执行湿度85%)
        (测试方法,依照客户要求而定)

        1. 温度范围

        -40~150

        1. 温度波动度

        ±0.5℃

        1. 温度偏差

        ±2.0℃

        1. 温度均匀度

        ±2.0℃

        1. 升温时间

        -40℃→+85℃   15min (8.3℃/min 快温变范围

        1. 降温时间

        +85℃→-40℃   15min (8.3℃/min 快温变范围

        1. 负载情况

        -40℃→+150升降温满足50W

        1. 总功率

        约26KW

         安装说明:

        2、为了稳定地发挥试验箱的功能、性能,应选择常年温度为 3 0  ℃以下,相对湿度小于 85%的场所。
        3、安装场所的环境温度切忌急剧变化。
        4、应安装在水平的地面上(安装时应用水平仪在地面上确定水平)。
        5、应安装在无直射阳光的场所。
        6、应安装在通风良好的场所。
        7、应安装在远离可燃物、易爆及高温发热源的地方。
        8、应安装在灰尘少的场所。
        9、尽可能地安装在靠近供电电源的场所。

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